Niveau d'étude
BAC +4
Composante
École Nationale Supérieure des Ingénieurs en Arts Chimiques
Volume horaire
10,66h
Objectifs
- Elaborer et mettre en œuvre une méthodologie pour résoudre un problème d'analyse, de caractérisation de matériaux
- Choisir, mettre en œuvre et optimiser une technique de caractérisation pour expertiser un matériau.
- Préparer et analyser un échantillon solide ou liquide en vue de sa caractérisation.
- Réaliser la caractérisation en respectant les normes et standards applicables et les consignes de sécurité inhérentes à un environnement de travail.
- Déterminer la structure cristallographique d'un matériau
Description
Connaître les modes de fonctionnement du Microscope électronique à balayage et la microscopie électronique en transmission de façon à mener à une utilisation rationnelle de ces outils de caractérisation et des moyens associés (EDS, WDS, EELS, EBSD, microsonde de Castaing ou EPMA, Tomographie électronique à 3D…)
Pré-requis obligatoires
Cours de cristallographie
Contrôle des connaissances
Examen écrit
Syllabus
Exploitation des interactions rayonnement – matière et effets d’échelle Apport des différentes techniques de microscopie (MO, MEB, MET, STEM) à la caractérisation des matériaux. - Principe de la microscopie électronique à balayage, les caractéristiques et les spécificités telles que la microsonde de Castaing et l’EBSD - La microscopie électronique à transmission, utilisation de la diffraction électronique pour identifier les différentes phases dans un matériau, l’imagerie basé sur le contraste de diffraction, l’imagerie haute –résolution - Les techniques associées à la microscopie électronique à transmission : le mode STEM dans un MET, la spectroscopie de dispersion en énergie des rayons X, la spectroscopie de pertes d’énergie des électrons et la tomographie électronique 3D
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Informations complémentaires
Cours/TD
Bibliographie
J.P. Eberhart. Analyse structurale et chimique des matériaux. Dunod David B. Williams and C. Barry Carter. Transmission Electron Microscopy. A textbook for Materials Science. Kluwer Academic Plenum Publishers - New York |